![\"\"](\"http:\/\/hebergement.universite-paris-saclay.fr\/MineralogieGEOPS\/wp-content\/uploads\/2024\/12\/s-l300-300x225-1.jpg\")
<\/a><\/figure><\/div>\n\n\nPlusieurs modes sont disponibles : tapping, contact, EFM, MFM.
Accessoires : cellule pour exp\u00e9rimentation en milieux liquides, caisson anti-vibrations, porte-\u00e9chantillon r\u00e9tro-\u00e9clair\u00e9 pour lames minces d\u2019\u00e9paisseur standard.<\/p>\n\n\n\n
- \n
- Mode Contact. La pointe reste en permanence au contact de l\u2019\u00e9chantillon au cours du balayage, la d\u00e9flexion verticale est maintenue constante et le d\u00e9placement en z du levier fournit donc une image directe de la topographie de la surface de l\u2019\u00e9chantillon (la d\u00e9flexion horizontale renseigne alors sur la friction entre la pointe et la surface). Ce mode offre aussi la possibilit\u00e9 de r\u00e9aliser des courbes ponctuelles d\u2019approche-retrait, qui permettent de d\u00e9terminer localement certaines propri\u00e9t\u00e9s (d\u00e9formations in\u00e9lastique et \u00e9lastique, force d\u2019adh\u00e9sion entre la pointe et la surface, etc.). Son principal inconv\u00e9nient est la d\u00e9gradation rapide des \u00e9chantillons\/pointes fragiles, et les artefacts qui en r\u00e9sultent.<\/li>\n\n\n\n
- Mode Tapping. La pointe oscille \u00e0 fr\u00e9quence de r\u00e9sonance du microlevier, et n\u2019est donc plus qu\u2019en contact intermittent avec la surface. La topographie de l\u2019\u00e9chantillon peut donc \u00eatre imag\u00e9e avec un minimum de d\u00e9gradations ; le retard de phase (signal d\u2019erreur), renseigne en outre sur les contrastes de visco\u00e9lasticit\u00e9.<\/li>\n\n\n\n
- Mode MFM. La pointe, magn\u00e9tis\u00e9e, oscille \u00e0 fr\u00e9quence de r\u00e9sonnance du microlevier et balaye \u00e0 altitude constante (mode non-contact) la surface d\u2019un \u00e9chantillon magn\u00e9tique. Les modulations de fr\u00e9quences caus\u00e9es par les interactions magn\u00e9tiques pointe\/surfaces permettent alors de cartographier les variations de champs magn\u00e9tiques locaux.<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n
Principe de l\u2019analyse :<\/strong>
Un microscope de force atomique est essentiellement constitu\u00e9 d\u2019une pointe tr\u00e8s fine fix\u00e9e sous un bras de levier microm\u00e9trique ; lorsque ce levier balaye la surface d\u2019un \u00e9chantillon, la mesure de sa d\u00e9flexion permet de cartographier la topographie de la surface et donne acc\u00e8s \u00e0 certaines de ses propri\u00e9t\u00e9s physiques et m\u00e9caniques.<\/p>\n\n\n\nR\u00e9solution lat\u00e9rale : elle d\u00e9pend de la nature de l\u2019\u00e9chantillon, du type\/rayon de courbure de la pointe.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
Le microscope de force atomique Dimension 3100 (Bruker) permet de cartographier la topographie de la surface d\u2019un \u00e9chantillon, ainsi que certaines propri\u00e9t\u00e9s physiques et m\u00e9caniques, avec des champs d\u2019observation allant de 30 \u00b5m \u00e0 quelques dizaines de nanom\u00e8tres. Plusieurs modes sont disponibles : tapping, contact, EFM, MFM.Accessoires : cellule pour exp\u00e9rimentation en milieux liquides, caisson anti-vibrations, porte-\u00e9chantillon … <\/p>\n