SEMFIB

Plateforme de Nanostructuration de l'ISMO Équipement mutualisé de l'Université Paris-Saclay

Focused- IOn-BEAM Scanning electron Microscope FIB-SEM

L’instrumentation a disposition est constitué d’un microscope électronique à balayage de type Zeiss 1540, équipé de la colonne électronique Ultra Haute Résolution Gemini® et d’une colonne ionique filtrée en masse  Orsay physics.

Les spécifications sont les suivantes :

Colonne électron Gemini :

  • source de type FEG-Schottky  
  • Tension d’accélération variable en continu de 100 V à 30 kV
  • Résolution : 1,1 nm à 20 kV  et  2,5 nm à 1 kV
  • Courant de sonde : 4 pA à 20 nA

Colonne ions 30keV  :

  • Orsay physics avec filtre de Wien  -> sources Au+, Ga+, Si+
  • Faisceaux préréglés : 5n 1n 500p 200p 100p 50p 10p 3p 

Détecteurs disponibles:

  • Détecteur de type Everhart Thornley pour la détection des électrons secondaires : SE2
  • Détecteur 4 quadrants pour la détection des électrons rétrodiffusés haute tension : AsB
  • Détecteur annulaire haute performance pour la détection des électrons secondaires basse tension : In-Lens (dans la colonne)
  • Caméra IR-CCD, pour la visualisation de l’intérieur de la chambre.

Microanalyseur EDS QUANTAX pour l’analyse élémentaire X avec logiciel Esprit, (Hypermap, cartographie X, profils, pointés), HSQuant analyse avec témoins (analyse X quantitative et/ou semi-quantitative) avec correctif de dérive d’images

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